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本文標(biāo)題:顯微鏡中的晶體試樣在進(jìn)行電鏡觀察
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞 新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-7-4 16:00:19
顯微鏡中的晶體試樣在進(jìn)行電鏡觀察
顯微鏡中的晶體試樣在進(jìn)行電鏡觀察時(shí)，由于各處晶體取向不同
和晶體結(jié)構(gòu)不同，滿(mǎn)足布拉格條件的程度不同。
使得顯微鏡對(duì)應(yīng)試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面
形成一個(gè)隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度，稱(chēng)為衍
射襯度。
這種顯微鏡可的襯度對(duì)晶體結(jié)構(gòu)和取向十分敏感，當(dāng)試樣中某處
含有晶體缺陷時(shí)。
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