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本文標(biāo)題:掃描電子顯微鏡多種分析功能

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2014-3-24 14:54:11

掃描電子顯微鏡多種分析功能

掃描電子顯微鏡觀測(cè)是通過進(jìn)行化學(xué)腐蝕來(lái)實(shí)現(xiàn)的，由于不同極性

的程度不一樣，利用電體形成凹凸不平的區(qū)域從而可在顯微鏡中進(jìn)

行觀察。

因此將樣品表面進(jìn)行化學(xué)腐蝕后，利用掃描電子顯微鏡圖像中判斷

不同結(jié)構(gòu)。對(duì)不同的晶體選擇合適的種類、濃度、腐蝕時(shí)間和溫度

都能良好圖樣。掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備的組合以實(shí)現(xiàn)多種分析

功能。

實(shí)際分析工作中獲得放大像后，在同一臺(tái)儀器上進(jìn)行原位化學(xué)成分

或晶體結(jié)構(gòu)分析，提供包括形貌、成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向在內(nèi)的資

料，以便更全面、客觀進(jìn)行分析。

為了適應(yīng)不同要求掃描電子顯微鏡上安裝附件，一機(jī)多用成為一種

快速、直觀、綜合性分析儀器。把掃描電子顯微鏡應(yīng)用范圍擴(kuò)大到

各種顯微或微區(qū)分析方面，充分顯示了掃描電鏡的多種性能及廣泛

的應(yīng)用前景。

掃描電子顯微鏡的最主要組合功能有X射線顯微分析系統(tǒng)主元素的定

性和分析，分析區(qū)分信息；電子背散射系統(tǒng)用于晶體和礦物的研究。

隨著現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展顯微鏡分析功能出現(xiàn)，例如顯微熱臺(tái)和冷臺(tái)系統(tǒng)

，用于觀察和分析加熱和冷凍過程中微觀變化；拉伸臺(tái)系統(tǒng)用于觀察

和分析受力過程中發(fā)生微觀結(jié)構(gòu)變化。