本文標題:目前表面粗糙測量技術的研究趨勢
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2016-4-4 17:45:09
目前表面粗糙測量技術的研究趨勢
隨著光學、電子學以及計算機等技術的不斷進步，同時也拓展出
了表面粗糙測量技術的研究方向。
自20世紀80年代不斷的研發設計出各種顯微鏡。其中不但包括原子力
顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、掃描近場光學顯微鏡還有光子掃描隧道顯微鏡
等。
將這些顯微鏡技術和計算機視覺技術相融合進行研究，來進行表面粗
糙度測量成為表面粗糙度測量技術研究新的熱點。
在很多領域中，比如科學研究中以及生產中，這其中都有一些外部因
素的限制，就比如工作環境的限制，要求在這些限制下進行線測量。這就需
要進行非接觸式的，且高效可靠的測量方法進行研究。
在實現上面的在線測量的基礎上，還要向三維的更高精度的表面粗糙
度測量技術的方向上進行發展延伸。
將本頁加入收藏
下一篇：細微工件的表面粗糙測量均是使用光切法顯微鏡
上一篇：巖石風化的主要因素有哪些？
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.bjjfyn.com.cn/xinwen/2128.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
